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English全自动芯片四面外观检测设备
全自动芯片四面外观检测设备
主要应用于光通讯、高功率激光芯片等单芯片外观检测；检测缺陷类型：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;
AOI-LD420机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，应用于Chip晶粒制程中的缺陷检查，节省人力，提升制程的品质稳定性。本系统基于精密运动和减震平台，搭载纳米级光学系统，核心视觉系统采用传统算法和AI算法结合，完成芯片取放，AR面/HR面/P面/N面的检查，识别芯片编号和关联对应输出缺陷信息;
产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com
AOI-LD420机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，应用于Chip晶粒制程中的缺陷检查，节省人力，提升制程的品质稳定性。本系统基于精密运动和减震平台，搭载纳米级光学系统，核心视觉系统采用传统算法和AI算法结合，完成芯片取放，AR面/HR面/P面/N面的检查，识别芯片编号和关联对应输出缺陷信息;
产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com
易操作，快速建模，类似产品可自动生成模板
基于深度学习的缺陷检测+传统算法辅助，参数可自由设定卡控
支持离线复判，支持报表订制修改
可实现不破膜取料，降低产品损伤率
可实现订制吸嘴，减小压伤风险
纳米级高精度光学检测平台
定制镜头，支持选配微弱解理纹专项检测
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